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    Daeil 臺式主動防振臺

    簡要描述:DVIA-T是韓國Daeil公司推出的先進的臺式主動防震/隔振平臺,旨在將納米級成像儀器與低頻振動隔離開來,并在1 Hz時提供40-80%的隔振。

    • 產品型號:DVIA-T
    • 廠商性質:代理商
    • 產品資料:查看pdf文檔
    • 更新時間:2024-05-16
    • 訪  問  量: 2281

    詳細介紹

    防震臺的主要功能是減少外部環境因素對天平稱量精度的影響,特別是減少地面震動、機械振動或人員活動等因素對天平稱量結果的干擾。通過提供穩定的工作平臺,防震臺可以有效地降低這些干擾,確保稱量結果的準確性和可重復性。

    防震臺
    特點

    ·低頻段隔振技術

    在給超精密測量設備帶來影響的1-10Hz低頻段,DVIA-T系列發揮著出眾的隔振性能。DVIA-T系列在0.5Hz時,開始隔振,在10Hz時,提供99%的隔振性能。

    ·自動調平

    客戶的設備更換后,或是在設備位置變化、安裝地點移動等環境發生變化時,通過簡單的按鍵操作即可實現自動調平。

    · 便于攜帶的設計

    DVIA-T系列最小的型號為420 x 520 x 93 mm,25kg,客戶可以輕松攜帶,隨意在各處安裝使用。

    · 提供最佳解決方案

    我們自主開發了UI軟件,可根據客戶設備重量及安裝場所的狀態來調試軟件,提供最佳的解決方案。

    ·所有功能用按鍵控制

    DVIA-T由即插即用系統組成,所有功能均可用按鍵操控,只需連接AC電源即可使用隔振臺。

    · 實時監控

    DVIA-T 系列使用專用UI 軟件,能夠實時監控產品狀態和性能,并可通過LCD 前置面板確認振動及自動調平狀態。

    · ?需壓縮空氣

    DVIA-T由金屬彈簧組成,能夠隔離高頻段的振動,無需壓縮空氣。

    防震臺應用領域

    ·掃描電?顯微鏡(SEM)

    ·原?力顯微鏡(AFM)

    ·掃描探針顯微鏡(SPM)

    ·光學顯微鏡

    ·共聚焦顯微鏡

    ·干涉測量

    ·顯微操縱

    ·納?壓痕儀

    ·超精密測量

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